发光学报, 2017, 38 (1): 63, 网络出版: 2017-02-09   

InGaN/GaN 多量子阱LED载流子泄漏与温度关系研究

Temperature-dependent Carrier Leakage in InGaN/GaN Multiple Quantum Wells Light-emitting Diodes
刘诗涛 1,2,3,*王立 1,2,3伍菲菲 1,2,3杨祺 1,2,3何沅丹 1,2,3张建立 1,2,3全知觉 1,2,3黄海宾 1,2,3
作者单位
1 南昌大学 材料科学与工程学院, 江西 南昌330031
2 南昌大学 国家硅基LED工程技术研究中心, 江西 南昌330047
3 南昌大学 光伏研究院, 江西 南昌330031
补充材料

刘诗涛, 王立, 伍菲菲, 杨祺, 何沅丹, 张建立, 全知觉, 黄海宾. InGaN/GaN 多量子阱LED载流子泄漏与温度关系研究[J]. 发光学报, 2017, 38(1): 63. LIU Shi-tao, WANG Li, WU Fei-fei, YANY Qi, HE Yuan-dan, ZHANG Jian-li, QUAN Zhi-jue, HUANG Hai-bin. Temperature-dependent Carrier Leakage in InGaN/GaN Multiple Quantum Wells Light-emitting Diodes[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2017, 38(1): 63.

本文已被 2 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!