红外与激光工程, 2016, 45 (5): 0520002, 网络出版: 2016-06-12  

不同退火处理的台面型In0.83Ga0.17As pin光电二极管暗电流分析

Dark current analysis of mesa type In0.83Ga0.17As p-i-n photodiodes with different annealing treatment
李平 1,2,3李淘 1,2邓双燕 1,2李雪 1,2邵秀梅 1,2唐恒敬 1,2龚海梅 1,2
作者单位
1 中国科学院上海技术物理研究所 传感技术国家重点实验室, 上海200083
2 中国科学院上海技术物理研究所 红外成像材料与器件重点实验室, 上海200083
3 中国科学院大学, 北京100049
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