光学学报, 2018, 38 (6): 0612002, 网络出版: 2018-07-09   

红外光谱椭偏仪测量硫系玻璃As2Se3折射率的准确性 下载: 668次

Accuracy in Refractive Index Measurement of As2Se3 Chalcogenide Glass by IR Spectroscopic Ellipsometer
作者单位
1 宁波大学高等技术研究院红外材料及器件实验室, 浙江 宁波 315211
2 浙江省光电探测材料及器件重点实验室, 浙江 宁波 310027
引用该论文

李阳, 刘永兴, 戴世勋, 徐铁峰, 林常规, 陈飞飞. 红外光谱椭偏仪测量硫系玻璃As2Se3折射率的准确性[J]. 光学学报, 2018, 38(6): 0612002.

Yang Li, Yongxing Liu, Shixun Dai, Tiefeng Xu, Changgui Lin, Feifei Chen. Accuracy in Refractive Index Measurement of As2Se3 Chalcogenide Glass by IR Spectroscopic Ellipsometer[J]. Acta Optica Sinica, 2018, 38(6): 0612002.

引用列表
1、 宽带隙Ge-Se基硫卤玻璃的制备及其光纤性能光学学报, 2019, 39 (4): 0406001

李阳, 刘永兴, 戴世勋, 徐铁峰, 林常规, 陈飞飞. 红外光谱椭偏仪测量硫系玻璃As2Se3折射率的准确性[J]. 光学学报, 2018, 38(6): 0612002. Yang Li, Yongxing Liu, Shixun Dai, Tiefeng Xu, Changgui Lin, Feifei Chen. Accuracy in Refractive Index Measurement of As2Se3 Chalcogenide Glass by IR Spectroscopic Ellipsometer[J]. Acta Optica Sinica, 2018, 38(6): 0612002.

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