光学学报, 2018, 38 (6): 0612002, 网络出版: 2018-07-09
红外光谱椭偏仪测量硫系玻璃As2Se3折射率的准确性 
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Accuracy in Refractive Index Measurement of As2Se3 Chalcogenide Glass by IR Spectroscopic Ellipsometer
基本信息
| DOI: | 10.3788/AOS201838.0612002 |
| 中图分类号: | O439 |
| 栏目: | 仪器，测量与计量 |
| 项目基金: | 国家重点研发计划、国家自然科学基金、宁波大学王宽诚幸福基金（61675105）、 |
| 收稿日期: | 2017-10-20 |
| 修改稿日期: | 2018-01-16 |
| 网络出版日期: | 2018-07-09 |
| 通讯作者: | 徐铁峰 (xutiefeng@nbu.edu.cn) |
| 备注: | -- |
李阳, 刘永兴, 戴世勋, 徐铁峰, 林常规, 陈飞飞. 红外光谱椭偏仪测量硫系玻璃As2Se3折射率的准确性[J]. 光学学报, 2018, 38(6): 0612002. Yang Li, Yongxing Liu, Shixun Dai, Tiefeng Xu, Changgui Lin, Feifei Chen. Accuracy in Refractive Index Measurement of As2Se3 Chalcogenide Glass by IR Spectroscopic Ellipsometer[J]. Acta Optica Sinica, 2018, 38(6): 0612002.
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