光学学报, 2018, 38 (6): 0612002, 网络出版: 2018-07-09   

红外光谱椭偏仪测量硫系玻璃As2Se3折射率的准确性 下载: 664次

Accuracy in Refractive Index Measurement of As2Se3 Chalcogenide Glass by IR Spectroscopic Ellipsometer
作者单位
1 宁波大学高等技术研究院红外材料及器件实验室, 浙江 宁波 315211
2 浙江省光电探测材料及器件重点实验室, 浙江 宁波 310027
图 & 表

图 1. 物理模型示意图

Fig. 1. Schematic of physical model

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图 2. 不同厚度样品的折射率及误差值

Fig. 2. Refractive indices and errors of specimens with different thicknesses

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图 3. 不同背面粗糙度样品的表面结构图。(a) S1; (b) S2; (c) S3

Fig. 3. Surface structural diagrams of specimens with different back side roughnesses. (a) S1; (b) S2; (c) S3

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图 4. 不同背面粗糙度样品的折射率及误差值

Fig. 4. Refractive indices and errors of specimens with different back side roughnesses

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图 5. 样品表面粗糙度随抛光时长的变化曲线

Fig. 5. Surface roughness of specimens versus polishing time

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图 6. 不同表面光洁度样品的折射率及误差值

Fig. 6. Refractive indices and errors of specimens with different surface smoothnesses

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表 1As2Se3棱镜玻璃样品的折射率数据

Table1. Refractive indices of As2Se3 prism glass specimens

Wavelength /μm23456789101112
Refractive index2.82192.80392.79642.79262.78982.78732.78502.78232.77952.77662.7737

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表 2不同背面粗糙度样品参数

Table2. Parameters of specimens with different back side roughnesses

Sample No.RZ /μmThickness /mmDiameter /mm
S12.49250
S20.95250
S30.66250

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李阳, 刘永兴, 戴世勋, 徐铁峰, 林常规, 陈飞飞. 红外光谱椭偏仪测量硫系玻璃As2Se3折射率的准确性[J]. 光学学报, 2018, 38(6): 0612002. Yang Li, Yongxing Liu, Shixun Dai, Tiefeng Xu, Changgui Lin, Feifei Chen. Accuracy in Refractive Index Measurement of As2Se3 Chalcogenide Glass by IR Spectroscopic Ellipsometer[J]. Acta Optica Sinica, 2018, 38(6): 0612002.

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