为了研究行间转移型彩色面阵CCD在毫秒脉冲激光辐照下的损伤效果, 采用实验研究的方法, 测量了不同能量密度的激光作用下, CCD表面中心点温度、受损区域面积、深度及CCD内部复位时钟信号和阻抗值的变化, 结合CCD输出图像中出现不可恢复的焦斑及黑白雪花现象, 对彩色面阵CCD在毫秒脉冲激光作用下的损伤效果进行了分析。结果表明,在毫秒脉冲激光的辐照作用下,行间转移型彩色面阵CCD内部结构会产生不同程度的烧蚀, 当能量密度达到23.49J/cm2时, 烧蚀深度直达基底层, 致使CCD内部信号传输通道断开, 漏电流增加, 最终造成CCD无信号输出, 完全损坏。该研究对CCD探测器在强激光作用下的损伤效果研究是有帮助的。