脉冲功率激光技术国家重点实验室 (电子工程学院),合肥 230037
采用1.06 μm 的连续激光对可见光CCD 成像系统进行干扰实验,依次观察到了饱和串扰、串扰亮线加粗、全屏饱和与全屏布满黑白雪花点的实验现象。利用有限元分析的方法对实验中的探测器升温情况进行模拟计算。并通过数值分析,发现随着温度的升高,暗电流不断增大,当温度超过350 K 时,增大的速度显著上升;像元的饱和阈值相应地减小,当温度达到350 K 时,其数值就已经减为零。根据模拟升温的大小,结合温度升高时探测器暗电流、像元饱和阈值的变化,对实验现象进行了合理的解释。结果表明:除了考虑光电转换产生的光电子以外,由于激光辐照导致探测器表面升温,进而引起暗电流增大和像元饱和阈值减小,是CCD 产生饱和效应的重要影响因素。
CCD 饱和效应 有限元分析 暗电流 像元饱和阈值 温度影响 CCD saturation effect finite element analysis dark-current pixel saturation threshold temperature influence