采用1.06 μm 的连续激光对可见光CCD 成像系统进行干扰实验，依次观察到了饱和串扰、串扰亮线加粗、全屏饱和与全屏布满黑白雪花点的实验现象。利用有限元分析的方法对实验中的探测器升温情况进行模拟计算。并通过数值分析，发现随着温度的升高，暗电流不断增大，当温度超过350 K 时，增大的速度显著上升；像元的饱和阈值相应地减小，当温度达到350 K 时，其数值就已经减为零。根据模拟升温的大小，结合温度升高时探测器暗电流、像元饱和阈值的变化，对实验现象进行了合理的解释。结果表明：除了考虑光电转换产生的光电子以外，由于激光辐照导致探测器表面升温，进而引起暗电流增大和像元饱和阈值减小，是CCD 产生饱和效应的重要影响因素。