采用Nicolet 550型傅里叶变换红外光谱仪, 对不同世代水热法合成KTP晶体的不同晶面进行了镜反射法红外光谱测试, 与助熔剂法合成KTP晶体的红外光谱测试结果进行了比较, 并估算了不同世代样品中羟基的浓度。 测试主要针对水热法合成KTP晶体比较发育的(100)、 (011)和(201)晶面, 分基频区和指纹区两个区段进行。 研究结果表明, 水热法合成KTP晶体中OH-的伸缩振动存在明显的方向性特征, 其中［100］方向吸收明显, 并且其频率比助熔剂法合成KTP提高约30 cm-1。 样品中的羟基浓度依世代逐代下降, 羟基的存在抑制了KTP晶体的生长, 提高原料纯度对于提高晶体质量有重要意义。