在三维荧光光谱（EEM）测定中, 由仪器直接记录的光谱（称为未校正光谱）由于受荧光光度计光源灯或探测器等波长特性的影响, 并不是荧光物质本身的真实光谱, 研究了光谱校正对腐殖酸和色氨酸EEM光谱特征以及传统寻峰法和新兴FRI分析法结果的影响, 结果表明: 校正后, Ex/Em=220～450/250～500 nm范围内荧光强度降低, Em<250 nm范围内荧光强度增大, 腐殖酸荧光峰明显“蓝移”。 基于寻峰法的荧光指数（FI）和腐殖化指数（HIX）明显减小, 自生源指数（BIX）略增; 基于FRI分析法的反映各区域标准体积百分比PⅠ, n, PⅡ, n和PⅢ, n明显上升, 而PⅣ, n和PⅤ, n显著下降。 因此, 进行光谱校正是获得真实光谱谱图及光谱特征不可或缺的一部分。

作为一种快速、 无损的分析技术, 近红外光谱分析在许多领域中被广泛应用, 其中液体样品是其应用最为广泛的分析对象之一。 由于水等常用溶剂在近红外波段的温度敏感性极高, 因而不能忽视温度对溶液的近红外光谱测量带来的影响。 文章以朗伯-比尔定律为基础, 在理论上推导出了温度变化对溶液透射光谱的影响, 并提出利用纯溶剂在不同温度下的吸光度变化量作为温度校正量, 对样品光谱进行修正。 文章还在不同温度下, 对葡萄糖水溶液和白蛋白水溶液进行了光谱测量, 建立了30 ℃下的校正模型, 并以纯水的吸光度变化量为温度校正量, 将不同温度下的预测样品光谱修正至对应于30 ℃的光谱。 实验结果表明, 对光谱进行温度修正后, 有效消除了温度对光谱的影响, 葡萄糖和白蛋白的浓度预测误差得到了明显的降低。