中国科学技术大学 国家同步辐射实验室， 合肥 230029
束流寿命是衡量储存环性能的重要参数，直接影响着光源的正常运行。对于合肥光源(HLS)，托歇克(Touschek)寿命是影响束流寿命的重要因素。为了研究Touschek寿命，需要探测由于Touschek效应所损失的电子。介绍了束流寿命的概念，说明了Touschek效应的原理和机制，利用蒙特卡罗软件EGSnrc模拟计算了丢失电子与真空壁的相互作用，通过塑料闪烁体探测器和光电倍增管获得了由于Touschek效应丢失的电子所产生的信号，然后将信号经过放大甄别和符合处理后，用计数器测量了计数率。结果表明：由于Touschek效应而成对丢失的电子的确存在，且电子损失率随流强的降低而减小。这为下一步储存环的能量标定工作做好了前期准备。
合肥光源 束流寿命 托歇克效应 蒙特卡罗方法 塑料闪烁体探测器 Hefei Light Source beam lifetime Touschek effect Monte Carlo method plastic scintillation detector
1 四川大学,物理系,四川,成都,610064
2 中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900
简述了作者提出的脉冲裂变中子测量原理,介绍了一种采用中子灵敏度补偿原理建立的中子测量探测系统,即由辐射衰减器+载6Li塑料闪烁探测器组成的探测系统.采用数值模拟方法对该探测系统的参数进行了优化计算,给出了理论优化计算结果并进行了分析讨论,对这种方法和探测系统的适应性进行了分析,预测了这种方法的应用前景.
中子测量 载6Li塑料闪烁探测器 脉冲裂变中子总数 辐射衰减器 neutron measurement carried 6 Li plastic scintillation detector pulse fission neutron total amount radiation attenuator.
