华南师范大学光电子材料与技术研究所, 广东 广州510631
通过研究电流和温度应力及二者共同作用对发光二极管(LED)球泡灯可靠性的影响,分析各应力下LED球泡灯的失效机理。结果表明:在室温情况下,以电流为加速应力时,主要失效方式为蓝光芯片的退化;随电流应力的增大,荧光粉退化逐渐变为主要的失效方式,LED球泡灯的相关色温上升,显示指数增大。在温度应力或电流-温度联合应力作用下,荧光粉退化严重,出现黑化现象。此外,灯具、驱动电源、LED支架和铝基板等都发生黄化和变黑现象。这表明温度应力比电流应力更能加速LED球泡灯失效。基于外推法对电流应力下LED球泡灯的寿命进行了预测。
光学器件 LED球泡灯 电流 温度 加速应力 可靠性 激光与光电子学进展
2019, 56(8): 082301
中国科学院半导体研究所 光电子器件国家工程研究中心， 北京 100083
对自主研发的975 nm波长的COS封装的大功率半导体单管激光器进行了10，12，14 A的电流步进加速应力试验，应用逆幂律模型和指数分布的理论对试验结果进行了分析，计算出在8 A的电流下，器件的平均寿命为28 999 h。研究了器件的失效形式和老化前后的温升、偏振度的变化，结果表明：失效形式主要有体内退化、腔面退化、与焊接有关的退化；老化后的器件的结温上升增多,偏振度下降10%左右。
可靠性 步进加速应力 指数分布 reliability step accelerated stress exponential distribution
1 东北电子技术研究所， 辽宁 锦州 121000
2 二炮研究院， 北京 100085
简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程，以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划，并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验( HALT)和高加速应力筛选试验(HASS)的相关内容，详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明，给出了基本应用原则。最后就开展可靠性加速试验中专业人员协同工作以及数据库建立给出了一些建议。
可靠性加速试验 高加速寿命试验 高加速应力筛选试验 reliability accelerated testing highly accelerated life testing highly accelerated stress screening
北京工业大学 电控学院光电子技术实验室，北京 100022
介绍了发光二极管(LED)的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素，主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性，主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性，一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性，并建立了LED寿命的几种数学模型。最后根据具体实例，通过选择加速应力和试验方法，给出具体推导LED寿命的数学公式。
发光二极管 寿命评价试验方法 加速应力 数学模型 light-emitting diode (LED) testing method of lifetime evaluation accelerated stress mathematical model
电子科技大学光电记录技术中心,四川成都610054
采用高温和湿热交变加速应力条件对磁光盘可靠性寿命进行研究.通过对磁光盘在加速应力条件下的动态性能分析,提出了以威布尔分布来处理磁光盘失效的理论模型,并得到了较好的拟合,对磁光盘的可靠性寿命进行了评估,得到了磁光盘的可靠性寿命以及威布尔寿命分布函数.
磁光盘 可靠性 威布尔分布 寿命 加速应力 MO disk reliability Weibull distribution lifetime accelerating stress
