陈根强 1,2,*赵浠翔 1,2于众成 1,2李政 1,2[ ... ]王宏兴 1,2
作者单位
摘要
1 西安交通大学, 电子物理于器件教育部重点实验室, 西安 710049
2 西安交通大学电子与信息学部, 宽禁带半导体与量子器件研究所, 西安 710049
相较于传统的硅材料, 宽禁带半导体材料更适合制作高压、高频、高功率的半导体器件, 被认为是后摩尔时代材料创新的关键角色。单晶金刚石拥有大禁带宽度、高热导率、高迁移率等优异特性, 更是下一代大功率、高频电子器件的理想半导体材料。然而由于可获得单晶金刚石的尺寸较小, 且价格昂贵, 极大地阻碍了金刚石的发展。历经长时间的探索, 异质外延生长技术成为了获得高质量、大面积单晶金刚石的有效手段。本综述从金刚石异质外延的衬底选择、生长机理以及质量改善等方面对近些年来异质外延单晶金刚石的发展进行详细介绍。进一步地, 对基于异质外延单晶金刚石的场效应晶体管和二极管的研究进行了总结, 说明了异质外延单晶金刚石在电子器件领域的巨大潜力。最后总结了异质外延单晶金刚石仍需面对的挑战, 展望了其在未来的应用与发展前景。
单晶金刚石 异质外延生长 宽禁带半导体 半导体器件 场效应晶体管 二极管 single-crystal diamond heteroepitaxial growth wide-band gap semiconductor semiconductor device field-effect transistor diode 
人工晶体学报
2023, 52(6): 931
作者单位
摘要
1 河北省产品质量监督检验研究院, 河北 石家庄 050000
2 电子科技大学, 四川 成都 610000
3 中国电子科技集团公司第十三研究所, 专用集成电路国家级重点实验室, 河北 石家庄 050000
针对太赫兹通信及成像等系统对高集成度射频收发链路的需求, 在自主研制的太赫兹肖特基二极管的基础上, 建立了器件的精确模型, 设计并制备出基于二极管的倍频/混频单片集成芯片, 解决了传统二极管装配难度大、一致性差的难题, 提高了器件的性能。成功研制出170 GHz、340 GHz倍频器和340 GHz混频器模块, 并且开发出集成化的340 GHz发射与接收链路。发射端一体化模块实现了342 GHz功率为22 mW的输出, 接收端一体化模块实现了330~350 GHz单边带变频损耗在10 dB上下。该模块的开发为未来太赫兹通信及成像技术的应用奠定基础。
半导体器件 太赫兹肖特基二极管 倍频器 混频器 收发链路 semiconductor device terahertz Schottky diode frequency multiplier mixer transceiver link 
量子电子学报
2023, 40(3): 369
作者单位
摘要
长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室,吉林 长春 130022
研究了金属Cr作为扩散阻挡层的GaAs欧姆接触技术,设计了Au/Cr/AuGe/Ni和Ti/Cr/Au两种欧姆接触合金系统,并对Cr阻挡层厚度与退火条件进行了优化。研究结果表明:两种合金系统均可在380~480 ℃退火条件下形成欧姆接触,且Au/Cr/AuGe/Ni系统在420 ℃/60 s退火条件下的比接触电阻率为2.63×10-6 Ω·cm2,相较于在相同基底上镀制的Au/Ni/AuGe/Ni合金系统比接触电阻率的最低值1.54×10-5 Ω·cm2降低了近一个数量级,且具有更好的表面形貌;Ti/Cr/Au系统在440 ℃/60 s退火条件下的比接触电阻率为6.99×10-7 Ω·cm2,且在420~460 ℃相对较宽的温度范围内均可获得低的比接触电阻率。
材料 半导体器件 欧姆接触 扩散阻挡层 合金化 比接触电阻率 
中国激光
2022, 49(11): 1103001
作者单位
摘要
厦门大学 电子科学与技术学院 微纳光电子研究室,福建 厦门 361005
提出了一种新的Si衬底上GaN微盘谐振腔的制备方式,避免了传统Si基GaN器件中晶体质量较差以及外延层较厚对器件性能的影响。本工作中GaN的外延生长使用蓝宝石衬底,随后将外延层转移至硅衬底上进行微盘谐振腔的制备。外延生长时靠近衬底侧的GaN富缺陷层可使用减薄抛光的方式去除,并且通过简单湿法刻蚀二氧化硅牺牲层即可实现GaN微盘与Si衬底之间的空气间隙结构。基于较好的晶体质量与低损耗的谐振腔,实现了高Q值的Si基GaN微盘谐振腔低阈值激射,阈值能量低至5.2 nJ/pulse,Q值最高为10 487。同时,器件具有较好的温度稳定特性,在100 ℃环境下也能维持低阈值激射,为大规模单片硅基光子集成提供了高性能的激光源。
半导体器件与技术 微腔 氮化镓  高品质因子 低阈值 高温工作 Semiconductor devices and technology Microcavity GaN Si High Q factor Low threshold High temperature operation 
光子学报
2022, 51(2): 0251204
作者单位
摘要
厦门大学 电子科学与技术学院(国家示范性微电子学院),厦门 361005
垂直腔面发射激光器凭借阈值低、发散角小、调制速率高以及输出光束呈圆斑对称等特点,迅速成为当下半导体激光器的研究热点。氮化镓(GaN)材料是制造紫外到绿光波段光电子器件的理想材料,经过四十余年的研究,蓝光和绿光LED在照明、显示等领域得到广泛应用。技术含量更高的激光器件也已进入了应用的快车道,即将覆盖照明、通信、投影显示、光存储、医疗、微型原子钟及传感器等场景。铝镓氮(AlGaN)是GaN基半导体材料的重要代表之一,其禁带宽度可在3.4 eV(GaN)到6.2 eV(AlN)范围内连续可调,对应波长可覆盖200~365 nm波段,是制造从近紫外波段到深紫外波段紫外垂直腔面发射激光器的理想材料。而铝镓氮(AlGaN)垂直腔面发射激光器经过近20年来的发展,如今已成为半导体激光器的研究热点之一。首先回顾了GaN基垂直腔面发射激光器的发展历史,简要介绍了其在各个波段的主要应用场景;然后介绍蓝光、绿光及紫外垂直腔面发射激光器的研究进展;最后分析了光注入和电注入紫外垂直腔面发射激光器发展过程中的挑战和困难,并介绍了改进和优化的策略。
半导体器件与技术 垂直腔面发射激光器 氮化物 紫外 光电子器件 激光器 AlGaN Semiconductor devices and technology Vertical-cavity surface emitting laser Nitride Ultraviolet Optoelectronic Device Laser AlGaN 
光子学报
2022, 51(2): 0251203
作者单位
摘要
苏州大学, 放射医学及交叉学科研究院, 放射医学与辐射防护国家重点实验室, 苏州 215123
钙钛矿材料在太阳能电池和光电探测等领域的快速发展, 带动了其在核辐射探测领域的应用研究。钙钛矿晶体结构拥有多样化的结构容忍性, 如何设计组分并挖掘材料的相关特性具有很大的科学挑战。其次, 针对新型钙钛矿材料特性, 需要根据应用场景来优化半导体器件设计, 才能最大限度地发挥其辐射探测性能。鉴于此, 本文从熔体法晶体生长及半导体器件设计等角度, 探讨了不同维度钙钛矿结构的材料特性及辐射探测器件性能, 以期为该材料在核辐射探测领域的发展提供参考。
无机钙钛矿半导体 熔体法 单晶 半导体器件 核辐射探测 三维钙钛矿 二维钙钛矿 缺陷钙钛矿 inorganic perovskite semiconductor melt-grown method single crystal semiconductor device nuclear radiation detection 3D perovskite 2D perovskite defect perovskite 
人工晶体学报
2021, 50(10): 1830
任尚清 1,2,*王博博 1,2蒋春生 1,2钟乐 1,2[ ... ]解磊 1,2
作者单位
摘要
1 中国工程物理研究院 a.微系统与太赫兹研究中心, 四川成都 610200
2 b.电子工程研究所, 四川绵阳 621999
为获得 N型金属氧化物半导体( NMOS)器件在 γ射线辐照条件下的光电流特性, 采用激光模拟技术, 利用部分耗尽型绝缘体上硅 (PDSOI)工艺NMOS器件进行激光照射试验, 获得不同尺寸和拓扑结构器件在激光照射条件下光电流和激光入射能量之间的关系。利用 TCAD仿真工具进行器件的光电流仿真, 对比 TCAD仿真与激光模拟试验数据, 两组数据结果基本一致, 验证了激光模拟技术的可行性和准确性。通过与理论计算得到的光电流进行对比, 获得了理论计算与试验光电流之间的关系, 并由此得到器件寄生双极晶体管在激光照射条件下的放大倍数。
N型金属氧化物半导体器件 部分耗尽型绝缘体上硅 激光模拟 光电流 NMOS device Partial -Depleted Silicon On Insulator laser simulation photocurrent 
太赫兹科学与电子信息学报
2021, 19(2): 352
作者单位
摘要
1 昆明物理研究所, 云南昆明 650223
2 浙江大学硅材料国家重点实验室, 浙江杭州 310027
能够直观地“看到”半导体材料中制作的 p-n结, 对于半导体器件的设计和制造工艺很有意义, 知道 p-n结的厚度及其在样品中的位置, 有利于设计器件的结构、保护膜的厚度、电极的尺寸等, 也可以优化离子注入、表面处理、电路互联等工艺参数。本文用 EBIC(电子束诱生电流)法观察了 InSb半导体器件中的 p-n结。同时观察到了器件中的肖特基结, 其中肖特基结显示出明显的温度特性:温度降低, 肖特基结响应区域扩大, 温度降至 80 K, Cr-InSb肖特基结响应区域可扩展至 47 .m。用离子注入法在 InSb材料中制成的 p-n结其空间电荷区并不呈对称的空间分布, 靠 n区一侧的空间电荷区较薄, 电荷密度较大, 靠 p区一侧的空间电荷区较厚, 电荷密度相对较小。作为一种常用的观察分析工具, EBIC法在观察分析半导体器件结构方面有透视和显微等优点。
电子束诱生电流 肖特基结 p-n结 InSb半导体器件 electron beam induced current, Schottky junction, 
红外技术
2019, 41(8): 742
作者单位
摘要
1 上海大学 材料科学与工程学院,上海 200444
2 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所,江苏 苏州215123
基于硅基半导体器件的功放模块, 由于器件本身物理结构特性引起的功放开关时间以及开关时上升沿、下降沿斜率的控制不当, 导致调制邻道功率(Modulation of Adjacent Channel Power, ACP)以及瞬态切换邻道功率(Adjacent channel transient power, ACTP)较差, 从而引起邻道干扰。针对硅基半导体器件功放模块在数字对讲机中的应用, 创造性地提出了一种新的方法, 对功放栅极偏置电路优化, 从理论上分析和推导出功放开关时间以及开关时上升沿、下降沿斜率对ACP以及ACTP的影响, 并在实际应用中通过适当调节对讲机功放模块栅极偏置电路电容以及串联电阻, 实现了功放开关的上升沿以及下降沿斜率调节。实验结果表明: 该方法在不影响功放输出功率以及效率的前提下, 当信道间隔为12.5 kHz时, ACP<-60 dBc,ACTP<-50 dBc, 有效改善了ACP、ACTP的性能, 具有一定的实际意义和应用价值。
硅基半导体器件 数字对讲机 调制邻道功率 瞬态切换邻道功率 偏置电路 silicon based semiconductor devices digital two-way radio modulation of adjacent channel power adjacent channel transient power bias circuit 
红外与激光工程
2019, 48(5): 0521005
作者单位
摘要
河海大学 能源与电气学院, 南京 211100
使用原子层淀积方法得到了7.8 nm厚度的HfO2薄膜并通过直接溅射金属铝电极得到了Al/HfO2/Si MOS电容结构, 测量得到了HfO2基MOS结构在60Co γ射线辐照前后的电容-电压特性, 使用原子力显微镜得到了HfO2薄膜在辐照前后的表面微观形貌, 使用X射线光电子能谱方法测量得到了HfO2薄膜在辐照前后的化学结构变化。研究发现, 使用原子层淀积方法制备的HfO2薄膜表面质量较高; γ射线辐照在HfO2栅介质中产生了数量级为1012 cm-2的负的氧化层陷阱电荷; HfO2薄膜符合化学计量比, 介质内部主要的缺陷为氧空位且随着辐照剂量的增加而增加, 说明辐照在介质中引入了陷阱从而导致MOS结构性能的退化。
氧化铪 金属-氧化物-半导体器件 伽马射线 电离总剂量效应 hafnium oxide metal-oxide-semiconductor structure gamma-ray total dose effect 
强激光与粒子束
2019, 31(6): 066001

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