使用高精度数字式应力仪测量 KDP晶体的应力, 给出整体应力分布。通过沿光轴方向测量, 消除晶体 o光和 e光的双折射效应的影响, 准确得到晶体材料自身的应力双折射分布。实验结果表明, 测量重复性优于 0.1 nm/cm。对 KDP晶体材料应力的高精度数字式检测对于加工和使用具有重要的指导意义。
数字式应力仪 KDP晶体 应力双折射 光学检测 digital stress measurement instrument KDP crystal stress birefringence optical measurement
