鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，内蒙古鄂尔多斯017000
针对双屏显示产品Gamma曲线分离现象，通过实物解析、电学实验、工艺过程数据及调整工艺条件等实验进行验证，并结合大量验证数据进行机理研究。通过实物测量可知上下屏的液晶盒盒厚及像素电极CD存在差异，因此导致上下屏的透过率不同，进而造成上下屏Gamma差异。通过工艺调查验证得出液晶盒盒厚及像素电极CD差异是受到设备硬件影响导致涂胶起涂位置均一性差造成的；最终通过上下屏间封框胶封闭、最适化膜厚导入及波动范围内像素电极CD增大等工艺改善，将Gamma曲线分离不良彻底改善（不良发生率12%），提高了产品画面显示品质。
薄膜晶体管显示器 驱动电场 临界尺寸 液晶盒盒厚 TFT driving electric field critical dimension cell gap
为保证在一定工艺波动范围内显示的稳定性, 新品开发时通常会评价显示屏液晶安全范围（LC Margin）。其中, 柱状隔垫物（PS）特性对LC Margin的影响尤为显著, 因此本文针对PS特性的影响因素进行了相关研究。分析了环境温度与PS材料杨氏模量的关系, 探究了PS杨氏模量随温度的变化规律, 研究了工艺制程温度对PS弹性回复率的影响。最后, 探究了相同PS规格的显示屏在不同盒厚下的弹性回复速率。实验结果表明: 环境温度升高时, PS材料的杨氏模量随之降低; 而当工艺制程温度升高时, PS的弹性回复率会略微增加, 且PS的弹性回复速率会随着盒厚升高而变快。
液晶安全范围 盒厚 弹性回复率 杨氏模量 LC margin cell gap elastic recovery ratio Young’s modulus
1 河北工业大学 电子材料与器件天津重点实验室, 天津 300401
2 北京航空航天大学 仪器科学与光电工程学院, 北京 100191
3 河北工业大学 应用物理系, 天津 300401
为了提升垂直排列硅上液晶(VA-LCoS)器件的反射率, 本文通过建立常黑型VA-LCoS的三维光学模型, 分别用圆偏振光和线偏振光入射, 研究了预倾角、液晶盒厚和入射光波长对VA-LCoS器件的反射率的影响。结果表明: 使用圆偏振光入射能彻底消除亮态像素内黑色区域。本文条件下, 1.6 μm盒厚的VA-LCoS在圆偏振光入射时有最大的反射率。本研究的结论对VA-LCoS的设计和制备具有一定的指导意义。
硅上液晶 垂直排列 反射率 液晶盒厚 预倾角 LCoS vertical alignment reflectivity cell gap pretilt angle
合肥京东方光电科技有限公司，安徽 合肥 230012
根据异物晕不良形成原因及修复方法，分析了成盒盒厚及压头直径对不良修复成功率的影响因素。当面板盒厚大小不同时，在相同压力值下修复成功率存在差异，不同盒厚产品对应的修复最佳压力值大小并不相同。面板盒厚越小达到最佳修复效果所需的压力值越大，反之亦然。压头直径的变化直接影响作用在基板表面的压强，随着压强增加，修复成功率先增后减，碎屏率在一定压强后显著增加。研究表明，在实际生产中对异物晕不良进行按压修复时，需针对不同型号的产品盒厚找出合适的压力，并通过达到最佳效果所需的压强找出合适的压头，以保障良好的修复效果。
盒厚 压头直径 按压修复 成功率 cell gap diameter of head pressing repair effect of repair
合肥鑫晟光电科技有限公司，安徽 合肥 230012
针对薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display, TFT-LCD)边缘亮度偏低、出现暗带的不良现象，对不良机理及影响因子进行研究，并总结较优工艺条件。实验结果表明: 从液晶面板设计角度，均匀的边缘盒厚有助于提升边缘亮度均一性，故适中的液晶量、硅球尺寸、硅球掺杂比及较硬的封框胶其性能更优，同时贴附偏光片后的液晶面板越平坦其暗带程度越轻; 从背光源角度，模组成品的边缘暗带不良与背光源批次存在强相关性，但主要受背光源的平坦度等尺寸参数影响而非背光源自身的暗带程度。此外，老化工艺释放了背光源与液晶屏组装时产生的内应力，缓和边缘位置的形变，适当延长老化时间有利于降低边缘暗带不良发生率。通过以上较优条件的导入，成功改善了TFT-LCD显示器边缘暗带不良，有效地提升了产品竞争力。
液晶显示器 边缘暗带 亮度均匀性 盒厚 背光 TFT-LCD edge dark band luminance uniformity cell gap backlight unit
1 河北工业大学 电子材料与器件天津重点实验室, 天津 300401
2 河北工业大学 应用物理系, 天津 300401
对于硅上液晶(Liquid Crystal on Silicon,LCoS)器件而言, 由于其像素间距较小, 当某一像素施加电压后, 会影响其相邻不加电压的像素的光学特性。为了改善这一情况, 本文通过建立一种常白型LCoS的三维光学模型, 研究了3种参数对相邻不加电像素边缘的影响。结果表明: (1)相邻像素边缘暗态的位置和面积会随着液晶分子取向的改变而改变, 当液晶分子取向方向为45°时, 相邻像素边缘受影响的程度最小; (2)液晶盒的厚度越大, 相邻像素边缘受影响的程度越大; (3)像素间距对相邻像素边缘的影响是变化的。本文条件下, 当像素间距为0.7 μm时, 加电的中央像素对周围像素的反射率的影响最小。本研究的结论对高分辨率LCoS的设计和制备具有一定的指导意义。
硅上液晶 相邻像素 反射率 液晶盒厚 像素间距 LCoS adjacent pixel reflectivity gap of liquid crystal cell pixels gap
基于Landau-de Gennes理论, 利用松弛迭代法, 研究了电场对垂直排列(VA)液晶薄盒和反扭曲向列相(ITN)液晶薄盒的影响。两系统在相同条件下的倾角变化相同, 且系统双轴性与本征值的变化只取决于倾角的变化。研究表明, 当盒厚大于一定临界值时, 液晶系统一直处于正序参数态, 此时ITN 薄盒的扭曲角由线性排列逐渐变化到呈45°角排列; 当小于此临界盒厚时, 在一定电压下会出现负序参数单轴态, 此时ITN薄盒的扭曲角会偏离线性变化出现回滞。
Landau-Gennes理论 负序参数单轴态 本征值交换 临界盒厚 Landau-Gennes theory negative order parameters uniaxial state eigenvalue exchange critical cell gap
北京京东方显示技术有限公司CELL PI部，北京 100176
L0周边Mura是TFTLCD的一种常见缺陷。本文对L0周边Mura发生原因进行分析，发现真空对盒工艺进行过程中玻璃基板表面受力不均使力学合成力较少的局部位置发生形变并引起液晶屏周边区域盒厚波动，产生不良。采用辅助封框胶开环方式，主封框胶内外两侧压差趋于平衡，L0周边Mura发生率大幅降低;而通过优化辅助封框胶工艺有效地解决了周边区域力学失衡难题，不良发生率降至0.3%，改善效果明显。此外，周边优化设计方案有助于新产品开发阶段避免该不良发生。
L0周边Mura 液晶屏 盒厚 辅助封框胶 L0 side Mura panel cell gap dummy seal
1 韩山师范学院 物理与电子工程系, 广东 潮州521041
2 创佳电子有限公司,广东 潮州521000
从光干涉条纹图像的CCD获取出发, 进行Canny算法优化处理, 并以FPGA为核心芯片设计了液晶盒厚测量系统。实验结果表明, 本系统具有误差小、设备简单、操作快捷等特点, 在满足液晶盒厚在线自动测量的同时, 相对标准差提高到0.02%以上, 可以满足液晶显示器件生产厂家盒厚实时监控的需要。
Canny算法 液晶盒厚 灰度处理 Canny algorithm liquid crystal cell gap gray processing FPGA FPGA
