用超高真空蒸发技术在GaAs(100)和玻璃衬底上生长不同厚度Mn/Sb多层膜,并经短时间热退火(～1,20min).磁化强度测量显示具有很强的室温铁磁特性.当多层膜厚度从700A增至1600A时,饱和强度增加了近一倍,极向和纵向克尔角也增加了,但不到一倍.这表明磁化强度和克尔角两者均依赖于多层摸的厚度,但不是简单的正比于厚度的关系.增加Mn/Sb多层膜的厚度能增强饱和磁化强度和极向和纵向克尔饱和角.X射线衍射谱图结果表明高质量单晶结构的Mn/Sb多层膜能用超高真空蒸发技术生长,对较厚的多层薄膜,热退火的时间可很短(约1min).

对阿基米德螺旋线调制斩波器的曝光效率进行了理论分析和数值模拟,得到斩波器曝光效率对后续信号处理的影响.曝光效率直接影响后续探测器单元的曝光时间及入射辐射信号,与探测器信号读出时刻共同影响探测器有效积累电荷的均匀性;同时应在斩波器中增加调制同步定位点,可使热像仪适宜不同曝光效率的斩波器.在热成像系统设计以及电子处理系统设计时,必须综合考虑斩波器曝光效率的影响.

针对红外焦平面阵列探测元响应具有非线性特征,提出了一种易于硬件电路实现的、考虑探测元响应非线性的非均匀性校正方法.通过理论分析和仿真实验,结果表明该方法校正参数少,易于硬件实现并且校正性能优于多点校正法和基于多项式拟合的校正方法.

补偿固定噪声的时间漂移是红外焦平面非均匀校正技术中面临的一个重要问题.本文考察了近期提出卡尔曼滤波算法、校正统计算法与代数算法,分析其解决固定噪声随时间漂移的机理,并对算法性能进行综合评价,最后对得出的结论用仿真数据给予验证.

利用400～1200nm波段的椭圆偏振光谱对生长在蓝宝石衬底上的非故意掺杂纤锌矿氮化镓(GaN)外延薄膜进行了研究.通过拟合实验数据获得了GaN薄膜的厚度和在可见-近红外区域的折射率色散关系,即n₂(λ)=2.26₂+330.1₂/((λ/nm)₂-265.7₂).利用这一公式研究了GaN紫外-可见波段的反射光谱,计算得到的GaN薄膜厚度,与椭偏光谱结果一致,两者偏差仅为0.68%.

提出一种改进的方法,它采用视频帧组与残差帧组交替来进行三维小波变换,减少视频帧组内的帧数、时间延迟和存储空间,同时在时间轴上采用两种小波基相结合的方法,提高了压缩效率和解码图像的质量;尤其是对背景复杂的视频序列有较好的效果.实验结果表明本文方法在相同条件下比现有方法的PSNR平均提高约1dB,在内存减小近一半时仍有所提高.

利用基于第一性原理的FLAPW方法计算了CdTe和HgTe的能带结构和态密度.引进并利用快速搜索法计算了体系平衡时的晶格常数,相对于传统方法,更快速地得到了准确的平衡态的晶格常数.本文在计算得到与实验结果符合很好的能带结构和态密度的同时,对比分析了基于LSDA和GGA计算所得的结果.

对Ce1YIG磁光薄膜的制备过程及磁光性能进行了详细的研究.用RF磁控溅射法在二氧化硅的基片上淀积Ce1YIG薄膜,再对此薄膜进行晶化处理,以得到具有磁光性能的Ce1YIG薄膜.本文讨论了晶化过程中,Ce1YIG薄膜微观结构的变化对其磁光性能的影响.结果表明:采用波长为630nm的可见光测量,薄膜的饱和法拉第旋转系数θF为0.8deg/μm.同时,晶化薄膜易磁化方向为平行于膜面方向,其居里温度点为220℃.所得Ge1YIG薄膜的参数表明:所制备的薄膜适宜于制备波导型磁光隔离器.

提出了一种基于小波域分解的类型识别方法.该方法利用噪声图像的小波高频子带系数能量分布,对图像中最常出现的两类噪声:高斯噪声和椒盐噪声进行识别,并在此基础上对高斯噪声的方差和椒盐噪声的密度进行了估计.对大量含噪图像的实验结果表明:该方法对图像噪声类型的识别和噪声大小的估计都比较准确.

提出了一种基于图像主成分分量的高光谱小目标检测算法.作为一种多元数据集合,通常高光谱数据形成的几何体是一个超平面.主成分分析能有效估计这一几何体的本征维数.显著特征值对应的主成分体现了几何体大部分信息;而不显著特征值对应的主成分则代表了正交于几何体的信息,而这些信息中则包含了重要的内容,例如目标特性.文中提出的方法就是利用这些不显著的主成分分量来进行小目标检测.该方法减少了对先验光谱信息的依赖,提高了算法的实用性。

从电极设计的角度对行波电吸收调制器(TW-EAM)的带宽进行分析,用一个共面波导的TW-EAM的测量数据进行设计计算演示,介绍了本设计方法的计算过程.计算演示结果与实验测量结果相吻合.文章还分析了中间电极宽度和电极间距对带宽的影响.并简单说明用它计算设计的一个GaAs/GaAlAs多量子阱(MQWS)TW-EAM获得大带宽的例子.

以弹载应用为背景,提出了一种3mm被动毫米波多波束探测系统设计方案.该系统使用一个接收机及两组PIN管,可实现三通道的功能.在介绍了系统的工作原理后,对系统的主要参数进行了详细的设计.分析和实验表明该系统是可行的.

利用地物在空间上分布连续性这一信息,提出了一种高光谱图像先分块、再分类的分类方法,改进了通常意义下的分类只考虑光谱信息这一缺陷,通过对2000年我们在日本长野南牧村,采用上海技术物理研究所研制的推扫式成像光谱仪(PHI)获得了80个波段的高光谱数据进行实验,验证了我们算法的优越性.

提出了一种简单而有效的设计方法,即迭代Chebyshev方法.通过对Chebyshev带通滤光片设计过程的研究,指出由于多层λ0/4反射堆与原型滤光片的相位特性差异,造成最终带宽显著变窄.从某个给定的比较大带宽初值出发,经过一系列简单的迭代过程,即可得到满足要求的最终结构,从而避免对反射膜堆相位特性的计算.同时,文中还讨论了在优化过程中加入对干涉级次即间隔层厚度和波纹因子进行迭代的结果,最后给出了用迭代Chebyshev方法设计波分复用窄带滤光片的过程、框图及实际设计?峁?并指出通过不同的迭代过程实现方向受控的优化过程,是该种设计方法的基本原理.

用金刚石车床车削的方法在锗材料上成功地加工了折射-衍射混合式红外光学透镜,其中的衍射面制作在非球面的基底上,是国内首个制作在曲面基底上的混合成像元件.对折-衍射混合透镜和不带衍射环带的对比透镜的测试结果表明,衍射面加工效果良好,有效地减小了此单片镜系统的色差,明显提高了系统的成像质量,与设计结果吻合较好.

用射频(RF)溅射法在镀LaNiO₃(LNO)底电极的Si片上沉积PbZr_0.52Ti_0.48O₃(PZT)铁电薄膜,沉积过程中基底温度为370℃,然后在大气环境中对沉积的PZT薄膜样品进行快速热退火处理(650℃,5min).用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)测量其组分,X射线衍射(XRD)分析PZT薄膜的结晶结构和取向,扫描电子显微镜(SEM)分析薄膜的表面形貌和微结果,RT66A标准铁电综合测试系统分析Pt/PZT/LNO电容器的铁电与介质特性，结果表明,PZT薄膜的组分、结构和性能都与溅射沉积功率有关.

在多晶薄膜晶粒-晶界两相结构模型的基础上,考虑载流子对晶粒间界势垒区的隧穿机制,在10℃～100℃的温度范围内,模拟了Sol-gel多晶二氧化钒薄膜电阻率随温度的变化,模拟结果与实验结果有较好的吻合.模拟结果显示,二氧化钒多晶薄膜的晶界效应限制了薄膜相变时电阻率的变化,并使薄膜在金属相时呈现负的温度系数.