光子学报, 2017, 46 (9): 0912008, 网络出版: 2017-10-16   

基于Zernike多项式拟合三平面互检的误差分析

Error Margin Analysis of Three-flat Test Based on Zernike Polynomials Fitting
作者单位
1 西安工业大学 a理学院
2 b计算机科学与工程学院
3 西安工业大学 c光电工程学院,西安 710021
基本信息
DOI: 10.3788/gzxb20174609.0912008
中图分类号: TH744.3;O436.1
栏目:
项目基金: 科技部国际合作专项 (No.2015DFA10360)资助
收稿日期: 2017-03-28
修改稿日期: 2017-06-12
网络出版日期: 2017-10-16
通讯作者: 高飞 (gfgf_861031@163.com)
备注: --

高飞, 李晋惠, 田爱玲, 刘丙才, 李世杰, 岳鑫. 基于Zernike多项式拟合三平面互检的误差分析[J]. 光子学报, 2017, 46(9): 0912008. GAO Fei, LI Jin-hui, TIAN Ai-ling, LIU Bing-cai, LI Shi-jie, YUE Xin. Error Margin Analysis of Three-flat Test Based on Zernike Polynomials Fitting[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2017, 46(9): 0912008.

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