1 清华大学化学工程系, 北京 100084
2 北京智芯微电子科技有限公司能源互联网智能终端核心芯片可靠性技术国家与地方联合工程研究中心, 北京 100089
3 北京芯可鉴科技有限公司, 北京 102200
作为一种广泛使用的工程塑料, 尼龙的老化备受关注。 当作为电力系统芯片的封装材料时, 尼龙在自然环境下的老化有可能会导致封装失效, 从而影响芯片使用的可靠性, 严重时甚至导致芯片的失效, 给电力行业带来巨大损失。 常规的自然老化和人工加速老化评价周期非常漫长, 不同因素对尼龙老化的影响机理十分复杂, 且这种影响难以研究, 使得评价尼龙的老化稳定性成为一大难题。 采用自主开发的原位老化评价系统, 对尼龙6(PA6)和尼龙66(PA66)的老化稳定性及湿度对老化的影响进行了研究。 该系统可以实现光照/温度/湿度/氧气等环境因素的加载, 通过高灵敏度地测定材料在综合环境因素作用下产生的气相降解产物来评价材料的老化稳定性, 评价时间缩短到几小时。 实验表明, PA6和PA66的气相降解产物以H2O和CO2为主, 由于H2O在气相中的浓度不稳定, 因此以CO2的产生量作为老化评价指标。 通过对不同自然老化时间PA6和PA66的原位老化评价, 并与其ATR-FTIR红外光谱图进行对照, 证明了原位老化评价方法能够较好地反映尼龙的老化程度, 自然老化时间越长, PA6和PA66的稳定性越低, CO2的产生量越大。 进一步, 采用该方法研究了湿度对PA6和PA66老化反应的影响, 证明增大湿度对尼龙老化存在促进作用, 而且升高温度会进一步促进湿度对老化的促进作用。 研究表明, 原位老化评价方法是一种快速评价尼龙老化稳定性及环境因素影响的有力手段。
尼龙6 尼龙66 原位老化评价 傅里叶变换红外光谱 Nylon 6 Nylon 66 In-situ aging evaluation FTIR
陕西科技大学 电气与信息工程学院, 陕西 西安 710021
由于飞机铆钉缺陷检测系统的光照效果对缺陷检测质量发挥着关键作用, 因此本文对其照明系统进行优化。以被测零件背景图像灰度的均匀度为优化目标, 在拟合LED点光源照度分布函数的基础上, 利用菌群算法对光源系统参数进行寻优运算, 根据寻优结果对光源系统进行结构优化同时对各LED点光源进行功率控制, 并通过光学元件进一步提高优化效果。实验结果表明: 优化后光照均匀度在95%以上, 满足铆钉检测的光照要求。该方法实现了照明系统对铆钉顶圆面均匀照射的效果, 成像质量显著提高。
飞机铆钉表面缺陷 菌群算法 光源结构优化 光源优化控制 灰度均匀度 aircraft rivet surface defects bacterial foraging optimization source optimization intensity homogeneity
在挠曲电效应的基础上，研究了光照对ADS模式TFT-LCD Flicker漂移的影响。首先研究了正常点灯下Flicker漂移情况，然后测试了不加背光和降低背光亮度下的Flicker漂移，最后研究了光照panel一段时间后Flicker漂移情况。实验结果表明，光照使Cell盒内产生了离子，驱动信号电压存在时液晶发生极化，产生的“力”吸附离子，从而形成了直流偏压，产生了Flicker漂移。降低光照强度Flicker漂移程度减弱。利用该结果在一定程度上对显示器整体设计和品质的改善有重要指导意义。
挠曲电效应 光照 Flicker漂移 flexoelectric effect illumination flicker shift
挠曲电效应（Flexoelectric Effect）是指液晶分子在外电场的作用下,由于展曲/弯曲形变而导致的液晶分子自极化,并表现出宏观电偶极矩的现象。ADS模式液晶显示面板在开机工作初,由于挠曲电效应从而产生闪烁漂移（Flicker Shift）的现象。本文从挠曲电效应的产生机理出发,结合试验结果,讨论了灰阶电压大小及灰阶电压对称性对闪烁漂移程度、速率的影响;当闪烁漂移达到稳定后,面板的实际公共电极电压（Vcom）偏移程度变化。结果发现,随着灰阶电压的升高,闪烁漂移程度会随着挠曲电效应的增强而加重,面板内Vcom电压偏移量也随之增加,而改变灰阶电压的对称性可在一定程度上增强或抵消自极化效应带来的Flicker漂移和Vcom电压偏移。利用该结果可一定程度上改善面板的显示特性。
挠曲电效应 闪烁漂移 灰阶电压 灰阶电压对称性 Vcom电压 flexoelectric effect flicker shift gray scale voltage gray scale voltage symmetry Vcom voltage
1 光纤通信技术和网络国家重点实验室，武汉430074
2 武汉邮电科学研究院，武汉430074
介绍了一种基于FDR(频域反射)测试技术的馈线驻波故障定位方法及装置设计。通过发送特定频带的扫频测试信号，将发送功率值、故障馈线反射信号与入射信号矢量叠加的功率信号值通过通信接口传送到上位机，上位机软件根据这两个功率值计算馈线故障点距离，实现对馈线故障的精准定位。
频域反射 馈线驻波 故障定位 装置 FDR feed cable VSWR fault location apparatus
快门式3D液晶显示是目前的市场主流, 改善其串扰问题可以提高显示品质。文中描述了一种采用预充电和充电方式进行像素数据写入的侧边式LED背光快门眼镜3D显示装置。配合背光LED时序, 实现了较高的3D显示亮度的同时, 降低了3D显示中的串扰。并且在实验中制作出一个139.7 cm(55 in)快门眼镜式3D显示装置, 采用预充电和充电方式进行像素数据写入的信号驱动方法, 并采用8组LED背光扫描进行时序控制。对制作的显示装置进行信号测试, 3D光学测试, 结果表明用此种方法主要可以降低液晶响应时间以及3D串扰。
薄膜晶体管液晶显示 快门眼镜3D 预充电驱动 背光扫描 3D串扰 3D亮度 TFT-LCD shutter glass 3D pre-charge driver scan backlight 3D cross talk 3D luminance
北京航空航天大学 理学院 物理系,北京 100191
对系列In2O3:Sn (ITO)薄膜样品分别实施了不同剂量的Sn+,Ag+ 和Mo+离子注入并将它们在250 ℃下进行了热处理。利用霍耳测量研究了原始样品及注入和退火前后各样品的电学特性。研究了ITO薄膜的电学参数受离子注入的种类及剂量的影响。实验证明不同种类的离子注入会不同程度地降低ITO的导电性能,但热处理的效应与之相反。3种金属中,Sn+离子对薄膜造成的注入损伤最小,而高价的钼离子可以替换铟离子的位置成为施主,当注入剂量为1×1015 cm-2时,经过Mo+离子注入和后续退火的ITO薄膜,载流子浓度提高了14%。
离子注入 热退火 电学特性 In2O3:Sn In2O3:Sn (ITO) ion implantation heat annealing electrical properties
北京航空航天大学,仪器科学与光电工程学院,北京,100083
设计了基于径向基函数(RBF)神经网络的温度误差补偿方案,并对该方案所采用的标度因数误差模型和偏置误差模型进行研究.根据光纤陀螺的温度误差分布情况设计了标度因数误差和偏置误差联合补偿的方案,将基于多尺度分析的噪声和趋势项分离算法应用于建模数据预处理,以提高建模数据的准确性.建立了RBF神经网络模型,并改进模型的学习方法以防止网络的过拟合.最后,讨论模型输入向量对神经网络规模的影响.温度补偿的结果表明:标度因数误差模型的残差均方(RMS)达到0.73(bit/((°)/s))2,偏置误差模型的RMS达到0.051 (bit/((°)/s))2.该建模方法可以消除数字闭环光纤陀螺温度误差,满足中、高精度光纤陀螺实时温度补偿的要求.
光纤陀螺 神经网络 温度误差 误差模型 误差补偿
1 上海交通大学图像处理与模式识别研究所,上海
2 200030
在结合Mumford-Shah模型和水平集方法中的窄带解法优点的基础上,提出了一种新的图像分割模型.Mumford-Shah模型虽然具有良好的图像分割结果,但是其每次迭代过程都需要对所有图像数据进行计算,因而很费时,导致这种方法不适用于大的图像数据,特别是三维图像的分割.本文通过一种新的初始化方法把Mumford-Shah模型和水平集中的窄带解法结合在一起.这种新的初始化方法是通过在特定条件下简化快速行进法得到的.通过去除快速步进法中费时的排序过程,使得初始化的计算时间只有O(N).窄带Mumford-Shad模型把分割计算限制在窄带范围内,避免了大量的计算,但取得了与原始的Mumford-Shah模型相同的分割效果.实验结果表明基于快速步进法的初始化方法是可行的,而窄带M-S分割模型一次迭代计算的时间比原M-S模型减少许多.
Mumford-Shah模型 水平集方法 窄带法. Mumford Shah model level set narrow band scheme.
