1 中国科学院大学微电子学院，北京 100049
2 中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室，北京 100083
3 中国科学院大学材料科学与光电工程中心，北京 100049
为了考察深刻蚀结构的回音壁模式半导体微腔激光器的寿命，采用恒电流模式对 InGaAsP/InP 多量子阱耦合双圆微腔激光器进行了电老化试验，电流应力为 100 mA，老化总时长为 1400 h。对比了电老化试验前期、中期和后期器件的输出光谱和功率-电压-电流(P-V-I)特性，以器件稳定工作的电老化中期为例分析了器件的性能。分析了输出功率和阈值电流随时间的变化情况，判断出在电老化试验期间器件退化模式始终为渐进模式。以器件输出功率降到初始值的 50% 作为失效判据标准，在 100 mA 电流下，器件的寿命约为 1200 h。
激光器 微腔 可靠性 电老化试验 电流应力 寿命
1 天津大学 材料科学与工程学院, 天津 300072
2 弗吉尼亚理工大学 材料科学与工程学院, 弗吉尼亚州 蒙哥马利 24060
介绍了一种加速老化试验模型对LED模块进行寿命预测。分别采用纳米银焊膏、锡银铜焊料、导电银胶作为芯片粘结材料。控制环境温度和正向电流, 在特定的时间测量光输出。比较了不同粘接材料及环境温度对LED老化过程的影响, 并针对老化过程进行分析推导, 建立老化数学模型, 对其进行寿命预测。试验结果表明, 纳米银焊膏粘接的模块对温度的抗性最好, 纳米银焊膏有潜力在未来固态照明、投影和其他高功率器件领域得到应用。
大功率LED模块 粘结材料 纳米银焊膏 加速老化试验 寿命 high power LED module die attach materials nano-silver paste accelerated degradation testing lifetime
为了获得高温条件下封装材料对LED模组可靠性的影响, 在125℃环境温度下, 使用高温试验箱同时对四种不同的样品进行恒定温度的老化试验。结果表明: 在高温试验条件下, 没有使用硅胶和荧光粉的LED模组具有很高的可靠性; 而硅胶的碳化以及随之产生的气体、阻碍散热的荧光粉都会使光照度加速衰减, 同时使用硅胶及荧光粉会使光照度迅速衰减导致模组失效。
封装材料 老化试验 可靠性 失效 LED LED packaging materials aging test reliability failure
北京工业大学电子信息与控制工程学院, 北京100124
将GaN基蓝光芯片涂敷YAG荧光粉和透明硅胶制成额定功率为1 W的白光发光二极管(LED), 对其施加900mA的电流应力, 在老化过程中测量白光LED的主要光学参数, 考察其光学特性的退化情况。 经过4 200 h的老化, 样品光通量退化为初始值的15%~18% 。 样品的漏电流明显增大, 表明芯片有源区缺陷密度提高, 但光谱分布图中蓝光部分的辐射量未减少, 仅观察到黄光部分辐射量的减少, 推断出YAG荧光粉的转换效率降低。 同时, 从原理上分析了样品色温逐渐增大, 显色指数基本不变的原因, 对大功率白光LED在照明领域的应用有一定的借鉴意义。
发光二极管 老化试验 光谱 荧光粉 色温 显色指数 Light emitting diode Aging test Spectrum Phosphor Color temperature Color rendering index 光谱学与光谱分析
2012, 32(10): 2611
国防科技大学 光电科学与工程学院，湖南 长沙 410073
采用紫外辐照加速老化方法研究纸基彩色条形码的褪色规律。基于CIELAB模型分析紫外辐照累计时间与二维条形码色差的关系，对4色打印标签的检测结果表明：品红色褪变速率较大，青色、黄色和黑色的褪变速率逐次减小。基于RGB三基色直方图和概率统计原理，提出能有效校正颜色失真、正确机读二维条形码的“自适应阈值法”。实验表明：对于紫外25h加速老化后的褪色条形码，“自适应阈值法”的机读误码率≤0．05%。该研究结果为褪色彩色条形码标签进入实用阶段提供了实验依据。
彩色印刷 褪色 紫外辐射老化试验 二维条形码 误码率 color printing fading ultraviolet ageing test 2-D barcode bit error rate
