发光学报, 2016, 37 (2): 192, 网络出版: 2016-03-22   

原子层沉积AlOx薄膜对单晶硅太阳能电池钝化机制的影响

Passivation Mechanism of AlOx Thin Film Fabricated on c-Si by Atomic Layer Deposition
作者单位
1 大连理工大学 物理与光电工程学院,辽宁 大连116024
2 长春理工大学 理学院,吉林 长春130022
基本信息
DOI: 10.3788/fgxb20163702.0192
中图分类号: O484.4;TP394.1
栏目: 器件制备及器件物理
项目基金: “863”计划项目(2011AA050516)、 辽宁省博士启动项目(20141022)、中央高校基本科研业务费项目(DUT14LK34)资助
收稿日期: 2015-11-24
修改稿日期: 2015-12-07
网络出版日期: 2016-03-22
通讯作者: 张炳烨 (byzhang@dlut.edu.cn)
备注: --

张炳烨, 谢洪丽, 方铉, 刘爱民. 原子层沉积AlOx薄膜对单晶硅太阳能电池钝化机制的影响[J]. 发光学报, 2016, 37(2): 192. ZHANG Bing-ye, XIE Hong-li, FANG Xuan, LIU Ai-min. Passivation Mechanism of AlOx Thin Film Fabricated on c-Si by Atomic Layer Deposition[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2016, 37(2): 192.

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